產(chǎn)品分類(lèi)
VT6000材料三維輪廓共聚焦顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量。
SuperViewW白光干涉3D微觀形貌儀可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn).
中圖儀器SEM電鏡掃描顯微鏡操作系統(tǒng)簡(jiǎn)便,使用過(guò)程簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入,自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力(自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度)幫助用戶(hù)在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像,大大提升了使用效率。
VT6000三維表面形貌共聚焦顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量。
CEM3000高分辨力儀器掃描電鏡操作系統(tǒng)簡(jiǎn)便,使用過(guò)程簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入,自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力(自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度)幫助用戶(hù)在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像,大大提升了使用效率。
CEM3000中圖掃描顯微電鏡無(wú)需占據(jù)大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統(tǒng),這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶(hù)日常工作的桌面上,在用戶(hù)手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。此外,該系列臺(tái)式電鏡也可以進(jìn)入手套箱、車(chē)廂還是潛水器等狹小空間內(nèi)大顯身手。
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